[发明专利]一种绝对光栅尺编码宏微复合采集方法

摘要

本发明是一种绝对光栅尺编码宏微复合采集方法。所述绝对光栅尺为布置有并列排列的低精度编码码道及高精度编码码道的双码道光栅尺，其特征在于绝对光栅尺上装设有cmos传感器，cmos传感器包括有多行扫描方式、斜扫描读出方式、抛物线扫描读出方式，多行扫描方式扫描一行编码道，斜扫描读出方式及抛物线扫描读出方式扫描另一行编码道,多行扫描方式、斜扫描读出方式、抛物线扫描读出方式三种扫描宏微复合对编码进行采集。本发明实现绝对光栅尺读数头进行宏微复合读数，同时降低每帧图像采集时间而实现高帧频图像采集，本发明是一种能增强绝对式光栅尺的抗污染能力与提高解码的可靠性与正确率的绝对光栅尺编码宏微复合采集方法。

主权项

一种绝对光栅尺编码宏微复合采集方法，所述绝对光栅尺为布置有并列排列的低精度编码码道（1）及高精度编码码道（2）的双码道光栅尺，其特征在于绝对光栅尺上装设有cmos传感器（6），cmos传感器（6）包括有多行扫描方式、斜扫描读出方式、抛物线扫描读出方式，多行扫描方式扫描一行编码道，斜扫描读出方式及抛物线扫描读出方式扫描另一行编码道, 多行扫描方式、斜扫描读出方式、抛物线扫描读出方式三种扫描宏微复合对编码进行采集。