[发明专利]利用标准辐射温度计测量高温表面温度均匀性的方法有效
| 申请号： | 201310320862.8 | 申请日： | 2013-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN103411685A | 公开（公告）日： | 2013-11-27 |
| 发明（设计）人： | 张俊祺;孙富韬;王文革;张晓菲;赵化业 | 申请（专利权）人： | 北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院 |
| 主分类号： | G01J5/52 | 分类号： | G01J5/52 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 莫丹 |
| 地址： | 100076 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种利用标准辐射温度计测量高温表面温度均匀性的方法，其在被测物体表面喷涂上黑色、发射率大于0.88的涂料，待涂料干燥后加热被测物体至500～1000℃，再采用光谱发射率测量仪测得涂料的发射率数据ε，采用可调发射率参数的标准辐射温度计进行测量，测量前先调节标准辐射温度计发射率参数为ε，在被测物体表面选取5～9个位置，分别测量这些位置处的温度值T1～T5，记录最大值为Tmax，温度最小值为Tmin，计算被测物体表面温度均匀性为Tmax-Tmin。本发明方法可以测量500℃以上的高温表面进行测量表面温度均匀性，为发动机的表面温度测量、隐身材料红外辐射特性测量等应用提供可靠参数。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 标准 辐射 温度计 测量 高温 表面温度 均匀 方法 | ||
【主权项】：
一种利用标准辐射温度计测量高温表面温度均匀性的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：（1）在被测物体表面喷涂上黑色、发射率大于0.88的涂料，涂层厚度控制在0.05～0.1mm；（2）待步骤（1）所述的涂料干燥后，加热被测物体至500～1000℃，保持温度30min以上，采用光谱发射率测量仪测得涂料的发射率数据ε，测量发射率的准确度<0.01；（3）在步骤（2）测量后稳定10min以上，采用可调发射率参数的标准辐射温度计进行测量，测量前先调节标准辐射温度计发射率参数为ε，以抑制发射率对表面温度测量的影响，然后开始测量被测物体表面温度T：在被测物体表面选取5～9个位置，分别测量这些位置处的温度值T1～T5，记录最大值为Tmax，温度最小值为Tmin，计算被测物体表面温度均匀性为Tmax‑Tmin。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院，未经北京航天计量测试技术研究所;中国运载火箭技术研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310320862.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种用于汽车挡风玻璃的通用夹持装置
- 下一篇：磁翻板液位计防堵装置
