[发明专利]一种液晶屏的质量检测方法、装置及设备有效
申请号: | 201310326270.7 | 申请日: | 2013-07-30 |
公开(公告)号: | CN104345481B | 公开(公告)日: | 2017-11-10 |
发明(设计)人: | 尹岩岩;薛静;邢红燕;崔子巍;韩发龙 | 申请(专利权)人: | 北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 | 代理人: | 张颖玲,王黎延 |
地址: | 100176 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种液晶屏的质量检测方法,所述方法包括获取所述液晶屏的光学参数;采集所述液晶屏的图像;判定所述光学参数不在预设的光学参数范围内和/或所述采集的液晶屏的图像与预先存储的图像不一致时,确定所述液晶屏为不良。本发明还公开了一种液晶屏的质量检测装置。采用本发明的技术方案,能够有效区分出产品的不良类型,并记录产品的不良位置,从而能够有效的减少由于人为视觉差异等造成的误判或漏检,提高产品的出厂品质及良品率。 | ||
搜索关键词: | 一种 液晶屏 质量 检测 方法 装置 设备 | ||
【主权项】:
一种液晶屏的质量检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取所述液晶屏的光学参数;采集所述液晶屏的图像;判定所述光学参数不在预设的光学参数范围内和/或所述采集的液晶屏的图像与预先存储的图像不一致时,确定所述液晶屏为不良;其中,所述确定所述液晶屏为不良,包括:判定所述光学参数不在所述预设的光学参数范围内和/或所述采集的液晶屏的图像与预先存储的图像不一致之后,判断不良是否在同一平面,确定所述不良在同一平面时,则确定所述液晶屏为盒内不良。
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