[发明专利]近红外谷物成分分析仪

摘要

近红外谷物成分分析仪，属于谷物产品成分及含量分析领域，解决了现有日本食味值探测器的测量结果不可靠影响谷物成分分析的问题，包括样品室、近红外光路系统、透射光收集系统、上位机系统和控制模块，采用铝合金制成的滤光片盘与第一步进电机电连接，第二、第三步进电机分别与阀门和滚轮电连接，控制模块接收上位机系统指令控制第一步进电机带动滤光片盘旋转并设置其滤光波长，控制第二步进电机开关阀门下料，控制第三步进电机带动滚轮转动出料；近红外光对样品透射，透射光收集系统接收处理光谱弱信号，控制模块将光谱数据输送至上位机系统并利用光谱处理分析软件进行分析处理。本发明测得的光谱数据稳定精准，有效避免了误动作。

主权项

近红外谷物成分分析仪，包括：样品室（8），安装在样品室（8）上下端的阀门（10）和滚轮（12），分别靠近样品室（8）前窗口和后窗口设置的近红外光路系统和透射光收集系统，上位机系统（19），与上位机系统（19）电连接的控制模块（18）；所述透射光收集系统与控制模块（18）电连接；其特征在于，还包括：与所述近红外光路系统中的采用铝合金制成的滤光片盘（5）电连接的第一步进电机（6），分别与阀门（10）和滚轮（12）电连接的第二步进电机（9）和第三步进电机（14）；所述第一步进电机（6）、第二步进电机（9）和第三步进电机（14）均与控制模块（18）电连接，所述控制模块（18）接收上位机系统（19）指令控制第一步进电机（6）带动滤光片盘（5）旋转并设置其滤光波长，控制第二步进电机（9）开启和关闭阀门（10）进行下料，控制第三步进电机（14）带动滚轮（12）转动进行出料；所述近红外光路系统中的近红外光通过样品室（8）前窗口进入样品室（8）对样品进行透射，透射光收集系统通过样品室（8）后窗口接收光谱弱信号并对其处理后输送至控制模块（18），控制模块（18）将采集到的光谱数据输送至上位机系统（19）中，利用上位机系统（19）中的光谱处理分析软件对光谱数据进行分析处理。