[发明专利]一种用于IGBT器件的电连接结构无效

专利信息
申请号: 201310330191.3 申请日: 2013-07-31
公开(公告)号: CN103367305A 公开(公告)日: 2013-10-23
发明(设计)人: 吴磊 申请(专利权)人: 西安永电电气有限责任公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L25/07
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 唐灵;常亮
地址: 710016 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种用于IGBT器件的电连接结构,包括DBC基板、设置于所述DBC基板上的多个IGBT芯片和二极管芯片,所述IGBT芯片的发射极、二极管芯片和外部电路以及各个IGBT芯片的栅极之间通过一导电薄膜实现电性连接。由于该薄膜的接触属于面接触,因此保证了大电流的流通。本发明免去了铝线的邦定,缩小了DBC的设计面积,减少了因IGBT模块长时间工作而引起的邦定线失效,降低了因邦定而使芯片击碎的风险,进而使产品拥有良好的可靠性和稳定性。
搜索关键词: 一种 用于 igbt 器件 连接 结构
【主权项】:
一种用于IGBT器件的电连接结构,包括DBC基板、设置于所述DBC基板上的多个IGBT芯片和二极管芯片,其特征在于:所述IGBT芯片的发射极、二极管芯片和外部电路之间,各个IGBT芯片的栅极之间,以及各个IGBT芯片的栅极与外部电路之间都通过一导电薄膜实现电性连接。
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