[发明专利]半导体集成电路有效

专利信息
申请号: 201310339206.2 申请日: 2013-08-06
公开(公告)号: CN104036553A 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 北泽伦子 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G07B15/06 分类号: G07B15/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 陈萍
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 即便在通信协议发生了变化的情况下,也能够进行数据的收发。实施方式的半导体集成电路具备:前同步码检测部,从接收信号中检测前同步码;起始标记检测部,与前同步码检测部独立动作,从接收信号中检测起始标记;解码部,基于前同步码以及起始标记中至少一方被检测而动作,对接收信号进行解码;控制部,即使在前同步码检测部及起始标记检测部的检测的一方产生了错误的情况下,也处理解码部的解码结果;前同步码候补探查部,在前同步码检测部的检测成为错误的情况下,以起始标记的检测位置为基准,根据接收信号推测前同步码,并作为前同步码候补;以及后同步码候补变换部,基于前同步码候补来生成后同步码检测部在检测中使用的后同步码候补。
搜索关键词: 半导体 集成电路
【主权项】:
一种半导体集成电路,其特征在于,具备:前同步码检测部,从接收信号中检测前同步码;起始标记检测部,与上述前同步码检测部相独立地动作,从上述接收信号中检测起始标记;解码部,在检测到上述前同步码及起始标记中的至少一方时进行动作,对上述接收信号进行解码;控制部,即使在上述前同步码检测部及起始标记检测部的检测的一方产生了错误的情况下,也对上述解码部的解码结果进行处理;前同步码候补探查部,在上述前同步码检测部的检测为错误的情况下,以上述起始标记的检测位置为基准,根据上述接收信号推测前同步码,并作为前同步码候补;以及后同步码候补变换部,基于上述前同步码候补来生成上述后同步码检测部在检测中使用的后同步码候补。
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