[发明专利]Fast approximated SIFT算法中特征点检测方法及装置无效
| 申请号： | 201310351358.4 | 申请日： | 2013-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN103413326A | 公开（公告）日： | 2013-11-27 |
| 发明（设计）人： | 石亚飞;李兴仁;林锦麟;刘春晖 | 申请（专利权）人： | 上海盈方微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/20 | 分类号： | G06T7/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 上海市张江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | Fast approximated SIFT(Fast approximated Scale Invariant Feature Transform)算法中特征点检测方法及装置，属于图像处理技术邻域。该装置包括：计算积分图像单元(S301)，建立DoM尺度空间单元(S302)，检测空间极值点单元(S303)，特征点筛选单元(S304)，控制信号产生单元(S305)。本发明所述的特征点检测方法及装置应用于动摄像机情况下运动目标检测跟踪，通过将Fast approximated SIFT算法中特征点检测方法采用硬件装置实现，从而大大减少了特征点检测所需要的时间，进一步可以实现实时的运动目标检测跟踪。本发明所述的特征点检测方法及装置在减少特征点检测所需要的时间的同时，也优化了算法所需要的存储单元空间，降低了硬件实现的复杂度和规模。 | ||
| 搜索关键词： | fast approximated sift 算法 特征 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
Fast approximated SIFT算法中特征点检测方法，其特征在于：计算输入图像的积分图像；通过积分图像辅助建立DoM尺度空间；在DoM尺度空间上检测空间极值点；利用阈值法和Hessian矩阵法筛选特征点。
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