[发明专利]触摸屏金属架桥周边确定位置短路金属残留的去除方法有效
| 申请号： | 201310354539.2 | 申请日： | 2013-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN103399682A | 公开（公告）日： | 2013-11-20 |
| 发明（设计）人： | 许沭华;迟晓晖;王超 | 申请（专利权）人： | 芜湖长信科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 张金亭 |
| 地址： | 241009 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种触摸屏金属架桥周边确定位置短路金属残留的去除方法，包括以下步骤：一）确定存在短路不良的电容触摸屏金属架桥周边金属残留的位置；二）将电容触摸屏返回其绝缘光阻的黄光制程：1）首先在金属架桥及其周边金属残留的表面上涂布正性光阻；2）然后将该电容触摸屏用其绝缘光阻黄光制程的靶标固定在曝光机台面上；3）在曝光环节偏移用于绝缘光阻曝光的光罩，使金属架桥处于被曝光机光源照射的区域内且金属残留处于被遮掩的区域内曝光；4）显影去掉金属残留上的正性光阻；三）刻蚀去掉金属残留；四）剥膜去掉剩下的正性光阻，剥膜完毕即可得到架桥合格的良品。本发明能够将不良品修复为良品。 | ||
| 搜索关键词： | 触摸屏 金属 架桥 周边 确定 位置 短路 残留 去除 方法 | ||
【主权项】：
一种触摸屏金属架桥周边确定位置短路金属残留的去除方法，其特征在于，包括以下步骤：一）采用检测设备确定存在短路不良的电容触摸屏金属架桥周边金属残留的位置；二）将电容触摸屏返回其绝缘光阻PI的黄光制程，并按照如下步骤操作：1）首先在金属架桥及其周边金属残留的表面上涂布正性光阻；2）然后将该电容触摸屏用其绝缘光阻PI黄光制程的靶标固定在曝光机台面上；3）在曝光环节根据金属残留的延伸方向，且沿与金属架桥垂直的方向偏移用于绝缘光阻曝光的光罩，使金属架桥处于被曝光机光源照射的区域内且金属残留处于被遮掩的区域内曝光；4）显影去掉位于金属残留上的正性光阻；三）刻蚀去掉金属残留；四）剥膜去掉剩下的正性光阻，剥膜完毕即可得到架桥合格的良品。
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