[发明专利]一种硅通孔三维耦合串扰噪声模型及其建模方法无效

专利信息
申请号: 201310363315.8 申请日: 2013-08-19
公开(公告)号: CN103413001A 公开(公告)日: 2013-11-27
发明(设计)人: 陈振阳;王琴;谢憬;毛志刚 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开一种硅通孔三维耦合串扰噪声模型及其建模方法,该建模方法包括如下步骤:输入TSV制造工艺信息;依照实际生产的TSV互连结构,将垂直高度分为几段,计算每段或每层中各个材料的阻抗;由制造工艺偏差所引入的相同介质层阻抗偏差,可通过将高度分段细化,单独计算各段阻抗值获得,将计算后的各段阻抗连接构成RCGL电路模型;计算相邻TSV构成的双端口RCGL电路间的噪声传输函数表达式,本发明将模型细化为不同高度段,可有效用于TSV故障模型的建立,经验证,本发明具有较高的准确度,并且建模快速,有着很好的可扩展性。
搜索关键词: 一种 硅通孔 三维 耦合 噪声 模型 及其 建模 方法
【主权项】:
一种硅通孔三维耦合串扰噪声模型,其特征在于:该串扰噪声模型根据双线传输线电磁场耦合模型,将TSV以及相邻TSV间提供传输通路的硅衬底分割为多个各自独立的阻抗单元,相互连接构成RCGL电路模型,相邻TSV耦合对之间形成一组可计算串扰值的双端口串扰模型。
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