[发明专利]一种多指标约束的分数阶PIλDμ控制器整定方法有效

专利信息
申请号: 201310374442.8 申请日: 2013-08-23
公开(公告)号: CN103454914A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 王昕;吴婧璇 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G05B13/02 分类号: G05B13/02
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种多指标约束的分数阶PIλDμ控制器整定方法,其包括以下步骤:给定一个分数阶PIλDμ控制器以及被控对象的期望指标,所述被控对象的期望指标包括:稳定性指标、扰动衰减H∞指标、灵敏度指标以及控制代价指标;根据被选择的期望指标的优先级顺序,分别求出符合各期望指标的待整定参数解集;综合各期望指标的参数解集,得到该分数阶PIλDμ控制器的待整定参数(kp,ki)的解集。本发明有效解决了当控制对象需要同时满足多个性能指标时,分数阶控制器的参数整定问题,且能够平衡各个具有竞争关系的性能指标,求出满足多个性能指标的尽量大的控制器参数解集,使分数阶控制器取得更好的控制效果及更好的动态性能。
搜索关键词: 一种 指标 约束 分数 pi sup 控制器 方法
【主权项】:
一种多指标约束的分数阶PIλDμ控制器整定方法,其特征在于,包括以下步骤:给定一个分数阶PIλDμ控制器以及被控对象的期望指标,所述被控对象的期望指标包括:稳定性指标、扰动衰减H∞指标、灵敏度指标以及控制代价指标;根据被选择的期望指标的优先级顺序,分别求出符合各期望指标的待整定参数解集;综合各期望指标的参数解集,得到该分数阶PIλDμ控制器的待整定参数(kp,ki)的解集。
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