[发明专利]一种硅锭质量的检测方法在审
申请号: | 201310378602.6 | 申请日: | 2013-08-27 |
公开(公告)号: | CN104237244A | 公开(公告)日: | 2014-12-24 |
发明(设计)人: | 钟树敏;刘兴翀;林洪峰;赵秀生 | 申请(专利权)人: | 天威新能源控股有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 谭新民 |
地址: | 610000 四川省成都市双流*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种硅锭质量的检测方法,利用现有的测试技术中红外探伤测试系统对硅块内部的杂质阴影进行探测、定位、并形成灰度图,由于灰度图在RGB颜色显示器中三个值都相同,所以,通过设定标准值,然后以色区的RGB值A与标准值相比较来判断出产品质量,为后续的加工给出定量的值,当产品不合格时,需要全部返回重新熔炼,当局部不合格的时候,可以将不合格的区域进行切割,而将剩余的合格部分加以利用,当全部合格时,可以直接整体切除,如此一来,可以将产品划分成三类,从而采取最合适的对应策略来进行处理,不仅减少了人为主观判断带来的误判,而且提高了检测精度,而且直接降低了制造成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 质量 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种硅锭质量的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:(a)利用红外探伤测试系统对硅块内部的杂质阴影进行探测、定位、并形成灰度图;(b)选取阴影处的色块,利用RGB颜色显示器计算出其RGB值A;(c)预设RGB标准值T1,其中,0≤T1≤256;(d)将步骤(b)得到的RGB值A与步骤(c)中的标准值比较,当0≤A≤T1时,对应的硅锭为不合格产品;当T1<A≤256时,对应的硅锭为合格产品。
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