[发明专利]试样缺陷识别系统有效
| 申请号： | 201310380058.9 | 申请日： | 2013-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN103438799A | 公开（公告）日： | 2013-12-11 |
| 发明（设计）人： | 陈波 | 申请（专利权）人： | 上海美诺福实验自动化有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/255;G01B11/26;G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 吴开磊 |
| 地址： | 201999 上海市宝*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种试样缺陷识别系统。该试样缺陷识别系统，包括：基座，基座具有用于放置试样的定样部位；设置于基座上的支架，支架包括有支寸架臂，支架臂具有端环；能够形成稳定光场的光源部件，光源部件设置于支架臂上，并位于定样部位的上侧；用于采集部件参量信息的图形采集组件，图形采集组件安装于端环内；用于接收图形采集组件发出的信号并与图像分析设备连通的通信组件，通信组件设置于基座内部。本发明提供的试样缺陷识别系统适用于各种冲击试样的部件缺口微观尺的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 缺陷 识别 系统 | ||
【主权项】：
一种试样缺陷识别系统，其特征在于，包括：基座，所述基座具有用于放置试样的定样部位；设置于所述基座上的支架，所述支架包括有支架臂，所述支架臂具有端环；能够形成稳定光场的光源部件，所述光源部件设置于所述支架臂上，并位于所述定样部位的上侧；用于采集部件参量信息的图形采集组件，所述图形采集组件安装于所述端环内；用于接收所述图形采集组件发出的信号并与图像分析设备连通的通信组件，所述通信组件设置于所述基座内部。
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