[发明专利]面板测试用玻璃碰撞型探头块结构无效
申请号: | 201310381851.0 | 申请日: | 2013-08-28 |
公开(公告)号: | CN103675366A | 公开(公告)日: | 2014-03-26 |
发明(设计)人: | 任永淳;尹彩荣;崔允淑;朴遇宗 | 申请(专利权)人: | 未来技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067 |
代理公司: | 北京冠和权律师事务所 11399 | 代理人: | 朱健 |
地址: | 韩国京畿道龙仁*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明涉及面板测试用玻璃碰撞型探头块结构,其中,头块设置于面板测试用探头单元,接触于作为检查对象体的各种面板,从而提供用于测试的电子信号,其包括:缓冲部件,其设置于构成上述头块的主体下方前端;Ni碰撞型微机电系统玻璃块(MEMS Glass block),其与上述缓冲部件相接,并且形成有与作为检查对象体的上述面板接触的导电图(Conductive pattern);连接部,其一侧与上述Ni碰撞型微机电系统玻璃块的导电图连接,且另一侧与搭载有用于面板检查的电路功能的驱动IC连接;软性印刷电路板(FPCB),其与上述驱动IC连接,并且向上述Ni碰撞型微机电系统玻璃块传送测试信号;固定板,其用于将上述结构固定在上述头块的下方。如上所述构成的本发明改善了电子连接结构,以便缩短Ni碰撞型微机电系统玻璃块长度,从而短小的Ni碰撞型微机电系统玻璃块可保持低角度,因此检查时可确保大面积接触于面板,进而将面板损伤最小化。 | ||
搜索关键词: | 面板 测试 玻璃 碰撞 探头 结构 | ||
【主权项】:
一种面板测试用探头块,其设置于面板测试用探头单元上,接触于作为检查对象体的各种面板,从而提供用于测试的电子信号,其包括:缓冲部件,其设置于构成上述头块的主体下方前端;Ni碰撞型微机电系统玻璃块(MEMS Glass block),其与上述缓冲部件相接,并且形成有与作为检查对象体的上述面板接触的导电图;连接部,其一侧与上述Ni碰撞型微机电系统玻璃块的导电图连接,另一侧与搭载有用于面板检查的电子电路功能的驱动IC连接;软性印刷电路板(FPCB),其与上述驱动IC连接,并向上述Ni碰撞型微机电系统玻璃块传送测试信号;以及固定板,其用于将上述结构固定在上述头块的下方。
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