[发明专利]阵列基板及其检测方法和制备方法有效
申请号: | 201310384877.0 | 申请日: | 2013-08-29 |
公开(公告)号: | CN103513454A | 公开(公告)日: | 2014-01-15 |
发明(设计)人: | 李梁梁;郭总杰;丁向前;刘耀;白金超 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G02F1/1362;H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种阵列基板以及该阵列基板的检测方法和制备方法。该阵列基板包括第一检测线、第二检测线以及相间设置的第一数据线和第二数据线;所述第一数据线直接连接至第一检测线,第二数据线通过开关元件连接至第二检测线;或者,所述第二数据线直接连接至第二检测线,第一数据线通过开关元件连接至第一检测线。本发明避免了由于第一检测线与第二检测线短路不良造成合格产品被误判为不合格产品的问题;并且,在测试过程之外,由于开关元件处于关断状态,即和开关元件的连接测试线与对应数据线之间是断开的,这样避免了显示区域电荷传递到测试线上,减少了静电积累,提升了shorting bar区域的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 阵列 及其 检测 方法 制备 | ||
【主权项】:
一种阵列基板,包括第一检测线、第二检测线以及相间设置的第一数据线和第二数据线;其特征在于:所述第一数据线直接连接至第一检测线,第二数据线通过开关元件连接至第二检测线;或者,所述第二数据线直接连接至第二检测线,第一数据线通过开关元件连接至第一检测线。
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