[发明专利]一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法

摘要

本发明涉及一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法，属于光学检测技术领域，该方法根据被检光学元件或光学系统口径和检测中的子孔径口径，计算检测所需子孔径个数以及每个子孔径坐标位置，合理安排子孔径采样顺序和运动路径。本发明可以用于子孔径拼接检测技术中，安排子孔径采样顺序和路径，并用于指导拼接时数据处理。

主权项

一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法，其特征在于实现步骤如下：步骤1：根据被检光学元件或光学系统口径计算其外接圆半径R，定义外接圆口径为全口径；步骤2：将同一圈相邻子孔径圆心与两子孔径自身交点相连，形成角度为θ，输入θ大小，范围为0°≤θ≤120°中任意角度值；步骤3：根据θ大小和子孔径半径r，求出同一圈相邻子孔径圆心距离d；步骤4：根据全口径半径R、子孔径半径r以及相邻子孔径圆心距离d，求子孔径采样所需圈数；步骤5：计算每一圈采样所需子孔径个数以及每个子孔径坐标位置；步骤6：对步骤5所有子孔径进行编号。