[发明专利]反向导通场截止型绝缘栅双极型晶体管的制备方法在审
申请号: | 201310393633.9 | 申请日: | 2013-08-30 |
公开(公告)号: | CN104425260A | 公开(公告)日: | 2015-03-18 |
发明(设计)人: | 王万礼;黄璇;邓小社;王根毅 | 申请(专利权)人: | 无锡华润上华半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/331 | 分类号: | H01L21/331 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 邓云鹏 |
地址: | 214028 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种反向导通FS IGBT的制造方法,包括:提供N型硅衬底;通过光刻和离子注入向衬底内注入P型离子,在衬底的表面形成背面PN交隔结构;在衬底形成有背面PN交隔结构的表面通过外延工艺制备出N型的场截止层;在场截止层上外延制备出N型的漂移区;采用IGBT正面工艺制备出IGBT正面结构;将衬底减薄至背面PN交隔结构处;在背面PN交隔结构背离场截止层的表面形成背面金属电极。本发明于正面工艺之前直接在衬底上采用常规光刻机和离子注入设备制作背面PN交隔结构。FS层和漂移区用外延方式制备,外延后圆片厚度与常规流通圆片相同,再进行常规的正面工艺,因此与现有的常规工艺兼容,无需专用薄片流通设备,降低了成本。 | ||
搜索关键词: | 向导 截止 绝缘 栅双极型 晶体管 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种反向导通场截止型绝缘栅双极型晶体管的制备方法,包括下列步骤:提供第一掺杂类型的硅衬底;通过光刻和离子注入向所述硅衬底内注入第二掺杂类型的离子,在所述硅衬底的表面形成背面PN交隔结构,并清理硅衬底的表面完成去胶,所述第二掺杂类型与第一掺杂类型的电性相反;在硅衬底形成有所述背面PN交隔结构的表面通过外延工艺制备出N型的场截止层;在所述场截止层上外延制备出N型的漂移区;包括所述第一掺杂类型的硅衬底、PN交隔结构、场截止层及漂移区的硅片总厚度与常规流通硅片的厚度一致;采用绝缘栅双极型晶体管正面工艺在所述漂移区内和漂移区上制备出绝缘栅双极型晶体管正面结构;将所述硅衬底减薄至所述背面PN交隔结构处;在所述背面PN交隔结构背离所述场截止层的表面形成背面金属电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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