[发明专利]用于曲面变形测量的彩色CCD显微云纹法

摘要

本发明公开一种用于曲面变形测量的彩色CCD显微云纹法，属于实验力学技术领域。本发明的技术特点是利用标准全息光栅制作高弹性薄膜栅，将薄膜栅粘贴在待测曲面试件表面后形成曲面试件栅，利用彩色CCD相机靶面前方的拜耳滤光片作为参考栅，当曲面试件栅的像的栅距与彩色CCD相机内拜耳滤光片的6列单元相匹配时，就会形成彩色云纹条纹，计算后得到曲面试件的变形场。本发明首次将CCD云纹法应用于曲面变形的测量，提高了CCD云纹条纹质量，拓宽了云纹法的使用范围；与应变片法相比，可以实现非接触式的连续测量，测量区域可以更小，效率更高。

主权项

一种用于曲面变形测量的彩色CCD显微云纹法，其特征在于，包括：制作具有一定强度和硬度的高弹性薄膜，利用标准全息光栅在所述高弹性薄膜上转移制作出高弹性的薄膜栅，将所述薄膜栅粘贴在曲面试件表面形成曲面试件栅；单色光源照明所述曲面试件栅的表面，用配有显微镜头的彩色CCD相机采集变形前后的所述曲面试件栅的表面图像；利用所述彩色CCD相机内靶面前方的拜耳滤光片作为参考栅，所述曲面试件栅的局部区域经显微放大后在像平面上形成的平面像作为试件栅，当该试件栅的栅距与所述参考栅的栅距相匹配时，形成彩色CCD显微云纹条纹，分别采集试件变形前后的所述显微云纹条纹的图像并进行分析得出该局部区域的变形场，当该局部区域足够小时可以作为一个测量点来看待，求得该局部区域的变形场的平均值作为该局部区域的位置点的变形值；根据上述步骤依次逐点求得所述曲面试件的各个位置点的变形值，得出整个所述曲面试件的变形场。