[发明专利]一种激光频率法测量波片相位延迟的装置

摘要

本发明公开了一种激光频率法测量波片相位延迟的装置。该装置利用波片放入激光谐振腔内可以产生激光频率分裂的原理，使激光器的一个振荡频率变为两个振荡频率，这两个频率之间的频率差正比于波片的相位延迟。将激光输出光在同一偏振方向上取光拍，测量光拍信号的频率即是两个分裂频率的频率差，就可以精确得到波片相位延迟的大小。本发明的装置包括半外腔He-Ne激光器，放入腔内的待测波片由一个包含二维平移台和二维角度调节架的支撑架所承载，该波片支撑架在激光轴线一侧配置，可使激光腔长缩短，提高出光功率，并能使待测波片沿二维方向平移，测量不同点的相位延迟。

主权项

一种激光频率法测量波片相位延迟的装置，其特征在于，包括：氦氖激光器，所述氦氖激光器包括增益管和独立反射镜，所述增益管的两端分别固定着固定反射镜和增透窗片，所述独立反射镜的反射面与所述增透窗片相对，所述固定反射镜与所述独立反射镜形成所述氦氖激光器的谐振腔，所述独立反射镜的非反射面与压电陶瓷相连；波片支架，所述波片支架位于所述增透窗片和所述独立反射镜之间，所述波片支架包括平行移动导轨和固定在所述导轨上的至少二维角度调节的调节支架，待测波片和/或附加波片分别放置在所述调节支架上，并使所述待测波片和/或附加波片放在所述调节支架上时面法线相对于所述氦氖激光器的激光轴线倾斜；光强探测单元，所述光强探测单元设置在所述氦氖激光器的一侧，与所述增益管上的固定反射镜相对，用于对所述氦氖激光器输出的两个正交偏振态光强进行测量；频差探测单元，所述频差探测单元设置在所述氦氖激光器的另一侧，与所述独立反射镜相对，用于测量所述氦氖激光器输出的两个正交偏振态的激光的频率差；控制器，所述控制器与所述光强探测单元、所述频差探测单元以及所述压电陶瓷电相连，用于控制测量过程并输出测量结果。