[发明专利]千万像素级CMOS光学芯片模组测试插座无效
| 申请号： | 201310404709.3 | 申请日： | 2013-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN103487609A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | 朱小刚;柳慧敏 | 申请（专利权）人： | 苏州创瑞机电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种千万像素级CMOS光学芯片模组测试插座，包括上盖和底座，所述上盖包括上盖主体，所述上盖主体内安装有测试镜头，所述测试镜头前方还设置有光源单元，所述底座包括插座主体，所述插座主体内设有测试探针和浮动载板，所述底座还与PCB转接板连接，其中，所述测试探针、测试镜头和光源单元沿逐渐远离PCB转接板的方向依次分布。本发明能实现对千万像素级CMOS光学芯片模组的便捷、高效、准确的测试，且结构简单，操作方便，使用寿命长。 | ||
| 搜索关键词： | 千万 像素 cmos 光学 芯片 模组 测试 插座 | ||
【主权项】：
一种千万像素级CMOS光学芯片模组测试插座，包括上盖和底座，其特征在于，所述上盖包括上盖主体，所述上盖主体内安装有测试镜头，所述测试镜头前方还设置有光源单元，所述底座包括插座主体，所述插座主体内设有测试探针和浮动载板，所述底座还与PCB转接板连接，其中，所述测试探针、测试镜头和光源单元沿逐渐远离PCB转接板的方向依次分布。
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