[发明专利]一种双焊片灯头光头缺陷检测方法无效
申请号: | 201310414920.3 | 申请日: | 2013-09-10 |
公开(公告)号: | CN103471515A | 公开(公告)日: | 2013-12-25 |
发明(设计)人: | 吕建明;谢明宏 | 申请(专利权)人: | 镇江胡氏光电科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/14 | 分类号: | G01B11/14 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 212000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了灯头产品检验中一种灯头光头缺陷检测方法,所述的灯头光头缺陷主要涉及卡口型双焊片的灯头产品。本发明通过图像采集步骤采集灯头图片;图像平滑步骤对图像进行平滑处理来消除图像中的高频噪声;图像分割步骤对灯头图像进行分割处理并进行腐蚀膨胀;形心坐标计算步骤获取灯头焊片的形心坐标;光头缺陷检测步骤利用形心坐标间的连线与水平方向的倾斜角度对灯头图像进行旋转处理,使旋转后灯头两个焊片的形心连线处于水平位置,然后搜索图像中灯头卡口端子的最上和最下边缘位置,算出两个位置间的距离,和合格灯头的标准距离进行比较,检测出灯头是否光头缺陷。该方法检抗干扰能力强、可靠性和可维护性好,可以取代传统的人工检测方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 双焊片 灯头 光头 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种双焊片灯头光头缺陷检测方法,其特征在于包括以下步骤:图像采集步骤:基于单目视觉采集果实图像;图像平滑步骤:对图像进行平滑处理来消除图像中的高频噪声;图像分割步骤:对灯头图像进行分割处理,并进行腐蚀膨胀操作;形心坐标计算步骤:获取灯头焊片的形心坐标;光头缺陷检测步骤:利用形心坐标间的连线与水平方向的倾斜角度对灯头图像进行旋转处理,使旋转后灯头两个焊片的形心连线处于水平位置;搜索图像中灯头卡口端子的最上和最下边缘位置,算出两个位置间的距离,然后和合格灯头的标准距离进行比较,检测出灯头是否光头缺陷。
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