[发明专利]气体颗粒物测量装置

摘要

一种气体中颗粒物测量装置，用反射率较高的反光滤膜和反射率较低的吸光滤膜过滤气体中的颗粒物，利用光源照射反光滤膜和吸光滤膜，反光滤膜的反射光强随着颗粒物的沉积增加而减小，吸光滤膜的反射光强随着颗粒物的沉积增加而增加，利用光电探测及数据处理装置分别测出反光滤膜和吸光的反射光强变化，从而计算出气体中颗粒物含量。采用该方法无需对滤膜称重，还可以采用带状滤膜和滤膜输送装置，间歇输送滤膜从而实现长时间多次自动化测量。并且，和散射法测量气体中颗粒物方法相比，具有较高的测量精度。由于该装置考虑了气体中颗粒物的对光的反射和吸收，因此不会受到颗粒物反射率的影响。

主权项

一种气体颗粒物浓度测量装置，由带有通气孔的滤膜基座、反光滤膜、吸光滤膜、抽气泵及流量测量装置、光源、光电探测及数据处理装置构成，其特征为：反光滤膜和吸光滤膜盖紧在滤膜基座的通气孔上，滤膜基座的通气孔和抽气泵及流量测量装置相连，光源发出的光能够照射到反光滤膜和吸光滤膜上，光电探测及数据处理装置能够探测反光滤膜和吸光滤膜反射的光强度值并进行数据处理。