[发明专利]电子元件测试基座的浮动缓冲机构有效

专利信息
申请号: 201310424452.8 申请日: 2013-09-17
公开(公告)号: CN104459213B 公开(公告)日: 2017-06-23
发明(设计)人: 李欣哲;詹勋亮;颜泽询;罗伟诚;李昱明 申请(专利权)人: 京元电子股份有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 汤保平
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明关于一种电子元件测试基座的浮动缓冲机构,包括盖体、本体、弹性垫、滑移件、测试基座及容置座。盖体具有连结至气压泵的入气孔。本体具有一容置空间及多个定位槽,本体与盖体对应相结合。弹性垫夹设于盖体与本体间并覆盖容置空间,以界定出盖体与弹性垫间的一气密空间。滑移件包括多个定位柱,通过每一定位柱对应每一定位槽容设于容置空间内,滑移件可纵向滑移。测试基座是连结于滑移件的底部,具有至少一测试针组。容置座与测试基座对应结合设置,包括有对应于每一测试针组的一容置槽,其可容置有一待测电子元件。
搜索关键词: 电子元件 测试 基座 浮动 缓冲 机构
【主权项】:
一种电子元件测试基座的浮动缓冲机构,包括:一盖体,具有一连结至一气压泵的入气孔;一本体,具有一容置空间及多个定位槽,该本体与该盖体对应相结合,该多个定位槽的槽内的上方宽度大于下方宽度;一弹性垫,夹设于该盖体与该本体之间,并覆盖该容置空间,用以界定出该盖体与该弹性垫间的一气密空间;一滑移件,包括多个定位柱,该滑移件通过每一定位柱对应每一定位槽容设于该容置空间内,并位于该弹性垫的下方,且该滑移件可纵向滑移;一测试基座,连结于该滑移件的底部并位于该本体的下方,具有至少一测试针组;以及一容置座,与该测试基座对应结合设置,包括有对应于每一测试针组的一容置槽,用以容设一电子元件。
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