[发明专利]芯片自测方法及系统有效
| 申请号： | 201310425190.7 | 申请日： | 2013-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN104459522B | 公开（公告）日： | 2018-01-23 |
| 发明（设计）人： | 周博;郭平日;杨云 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 518118 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提出一种芯片自测方法，其中，该方法通过自测系统进行执行，该方法包括以下步骤自测系统分别生成串行调试命令时序宏定义集和测试控制方案宏定义集；自测系统获取芯片的前端逻辑信息；自测系统根据前端逻辑信息、时序宏定义集和测试控制方案宏定义集生成测试向量文件；以及自测系统通过测试机将测试向量文件写入至待测芯片，并接收测试机反馈的测试结果。本发明的芯片自测方法能够快速有效地对SOC全局地址空间验证，且操作简单、易实现，且方法具有较高的可移植性及贯通性，另外，该方法实现过程中能够节省资源，降低测试成本。本发明还提供了一种芯片自测系统。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 自测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种芯片自测方法，所述方法通过自测系统进行执行，其特征在于，包括以下步骤：所述自测系统分别生成串行调试命令时序宏定义集和测试控制方案宏定义集，其中，所述测试控制方案宏定义集包括待测芯片的地址及地址空间、测试数据和自测系统控制配置参数；所述自测系统获取芯片的前端逻辑信息；所述自测系统根据所述前端逻辑信息、所述时序宏定义集和测试控制方案宏定义集生成测试向量文件；以及所述自测系统通过测试机将所述测试向量文件写入至待测芯片，并接收所述测试机反馈的测试结果。
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