[发明专利]CCD摄像机校准对位方法有效

专利信息
申请号: 201310425241.6 申请日: 2013-09-17
公开(公告)号: CN103453889A 公开(公告)日: 2013-12-18
发明(设计)人: 张宜飞 申请(专利权)人: 深圳市创科自动化控制技术有限公司
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 李新林
地址: 518000 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种CCD摄像机校准对位方法。该方法使用到对位平台和两个CCD摄像机,校准时标准样品固定于对位平台上,对位平台在水平面上做定量的偏移和旋转,两个CCD摄像机记录每次运动后Mark点所在坐标,通过计算Mark点的变化,得出CCD摄像机的坐标系与对位平台坐标系的转换关系;两个CCD摄像机校准完成之后,即可以利用转换关系对待加工的产品进行对位。本方法在校准时控制对位平台平移、旋转,并使用两个CCD摄像机分别捕捉Mark点的变化,计算得出坐标转换关系;对位时两个CCD摄像机直接捕捉产品Mark点位置坐标,通过一系列计算后得出实际偏差量,然后进行对准;校准与对位的过程均不需要移动CCD摄像机移动,减少了精度损失,提高了校准和对位的精度和速度。
搜索关键词: ccd 摄像机 校准 对位 方法
【主权项】:
一种CCD摄像机校准对位方法,其特征在于,包括以下步骤:S1,标准样品固定于对位平台上,标准样品上带有Mark点,对位平台上方有两个CCD摄像机,控制单元控制对位平台和两个CCD摄像机开始工作;S2,两个CCD摄像机的校准:对位平台在水平面上做定量的偏移和旋转,待对位平台运动停止后,两个CCD摄像机记录对位平台的每次运动后标准样品的Mark点所在坐标,通过计算Mark点的变化,得出CCD摄像机的坐标系与对位平台坐标系的转换关系;S3,产品加工前的对位:产品在生产线上进入对位平台,CCD摄像机获取产品的Mark点坐标,移动对位平台使得产品向基准位置对齐。
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