[发明专利]位置测量仪和用于其运行的方法在审

专利信息
申请号: 201310433843.6 申请日: 2013-09-23
公开(公告)号: CN103673943A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: J.奥伯豪泽;B.施米德;J.J.罗森勒纳-埃姆德;W.施瓦格;T.施维策尔;H.迈耶;M.O.蒂曼 申请(专利权)人: 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01D5/12
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 陈浩然;谭祐祥
地址: 德国特劳*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种位置测量仪和用于其运行的方法,该位置测量仪带有编码载体,该位置测量仪带有:至少一个第一分度轨道和第二分度轨道,其中,第二分度轨道是增量分度轨道,用于通过在测量方向上探测第一分度轨道和第二分度轨道产生第一位置信号的第一探测器组件,用于通过在测量方向上探测第二分度轨道产生第二位置信号的第二探测器组件,用于将第一位置信号处理成第一绝对位置值的第一位置处理单元以及用于将第二位置信号处理成第二绝对位置值的第二位置处理单元,其中,第二位置处理单元可利用绝对辅助位置值初始化,绝对辅助位置值由第一位置处理单元输送给第二位置处理单元。
搜索关键词: 位置 测量仪 用于 运行 方法
【主权项】:
一种位置测量仪,其带有:编码载体(1.2),其带有至少一个第一分度轨道(1.21)和第二分度轨道(1.22),其中,所述第二分度轨道(1.22)是增量分度轨道,第一探测器组件(2.22),其用于通过在测量方向上探测所述第一分度轨道(1.21)和所述第二分度轨道(1.22)产生第一位置信号(Z1_1,Z3_1,Z16_1),第二探测器组件(2.23),其用于通过在测量方向上探测所述第二分度轨道(1.22)产生第二位置信号(Z16_2),第一位置处理单元(3.1,4.1),其用于将所述第一位置信号(Z1_1,Z3_1,Z16_1)处理成第一绝对位置值(POS1),以及第二位置处理单元(3.2,4.2),其用于将所述第二位置信号(Z16_2)处理成第二绝对位置值(POS2),其中,所述第二位置处理单元(3.2,4.2)能够利用绝对的辅助位置值(HPOS)初始化,所述辅助位置值由所述第一位置处理单元(3.1,4.1)输送给所述第二位置处理单元(3.2,4.2)。
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