[发明专利]用于测量结构的设备及方法有效

专利信息
申请号: 201310437394.2 申请日: 2009-12-15
公开(公告)号: CN103542834B 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: J·贝克曼 申请(专利权)人: 校准系统股份公司
主分类号: G01B21/32 分类号: G01B21/32;G01B21/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 张荣海
地址: 瑞典*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于测量结构的测量设备1,其中测量设备包括两个互相间隔设置的惯性测量单元3,4。测量设备可具有用于啮合被测量的结构的装置。还提供了一种包括测量设备和为测量设备提供参考点的基台21的配置。而且,提供了一种包括测量设备和适配器的套件,其中,适配器可在测量设备和被测结构之间提供接口。还提供了一种利用测量设备、尤其测量套件来测量固定结构的方法。
搜索关键词: 用于 测量 结构 设备 方法
【主权项】:
一种用于测量固定结构的测量设备(1),包括计算如固定结构的长度、高度以及宽度的距离,所述测量设备(1)包括主体(2),所述主体(2)包括第一和第二惯性测量单元(3,4),每个惯性测量单元被固定到所述主体并且相对于另一惯性测量单元(3,4)以距离(L)固定,每个惯性测量单元包括用于感测加速度(ax,ay,az)的至少两个加速度计和用于感测转动(ωx,ωy,ωz)的至少两个陀螺仪,并且其中,第一惯性测量单元(3)和第二惯性测量单元(4)被设置成在相同的方向上测量,并在测量设备(1)相对于所述固定结构移动时提供两个独立的测量结果;并且测量设备(1)还包括无线电通信装置,并且适于将测量数据传送到外部计算单元。
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