[发明专利]蚀刻溶液,用于制造压电元件的方法以及蚀刻方法无效

专利信息
申请号: 201310439370.0 申请日: 2013-09-24
公开(公告)号: CN103666477A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 藤井隆满;向山明博 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: C09K13/08 分类号: C09K13/08;H01L41/27;H01L41/332;C23F1/16
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 臧建明
地址: 日本东京港区*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种用于蚀刻压电薄膜的蚀刻溶液,用于制造压电元件的方法以及蚀刻方法,其中所述压电薄膜具有在形成于衬底(substrate)上的下部电极上生长成柱状结构的钙钛矿结构的薄膜,并且在薄膜与所述下部电极的界面上具有烧绿石层,其中所述蚀刻溶液至少包含:包含缓冲氢氟酸(BHF)、氟化氢(HF)以及稀释的氢氟酸(DHF)这三个中至少任一个的氢氟酸型化学制品;以及硝酸,并且具有按重量计小于10%的盐酸浓度以及为1/4或更小的盐酸与硝酸的重量比(盐酸/硝酸)。本发明还提供了一种制造压电元件的方法以使用蚀刻溶液执行蚀刻。
搜索关键词: 蚀刻 溶液 用于 制造 压电 元件 方法 以及
【主权项】:
一种用于蚀刻压电薄膜的蚀刻溶液,其中所述压电薄膜具有在形成于衬底上的下部电极上生长成柱状结构的钙钛矿结构的薄膜以及在所述压电薄膜与所述下部电极的界面上的烧绿石层,所述蚀刻溶液至少包含:包含缓冲氢氟酸、氟化氢以及稀释的氢氟酸这三个中至少任一个的氢氟酸型化学制品;以及硝酸,且其中盐酸的浓度按重量计小于10%,并且所述盐酸与所述硝酸的重量比为1/4或更小。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士胶片株式会社,未经富士胶片株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310439370.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top