[发明专利]一种X线平板探测器图像坏线的修补方法

摘要

本发明公开一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其包括步骤：计算X线平板探测器图像中坏线区域的异常度；当异常度大于预设的第一阈值时，进一步判断异常度是否大于预设的第二阈值，若是，忽略X线平板探测器图像坏线中各像素点的像素值，通过坏线坐标周围的非损坏像素区域，在坏线垂直方向使用插值平滑法对图像进行处理，得到最终的修补图像，否则，进一步检测坏线内平行于坏线方向的明显的边缘，对边缘进行曲线拟合，并经过插值及平滑处理得到最终的修补图像。本发明无需修改X线平板探测器的参数，又充分利用了坏线区域的有效像素值，达到了较好的修复效果，并保留了X光图像的有效诊断信息，对提高诊断具有积极意义。

主权项

1.一种X线平板探测器图像坏线的修补方法，其特征在于，包括步骤：A、计算X线平板探测器图像中坏线区域的异常度diffVal；B、当异常度diffVal大于预设的第一阈值T时，进一步判断异常度diffVal是否大于预设的第二阈值t，若是，转入步骤C，否则转入步骤D；C、忽略X线平板探测器图像坏线中各像素点的像素值，通过坏线坐标周围的非损坏像素区域，在坏线垂直方向使用插值平滑法对图像进行处理，得到最终的修补图像f_(x,y)；D、检测坏线坏线方向明显的边缘，对边缘进行曲线拟合，并经过插值及平滑处理得到最终的修补图像f_(x,y)；其中，第一阈值T的计算公式为第二阈值t的计算公式为i＝1,2,…,N，N为坏线方向上像素点的个数，Max(GrayScale)为X线平板探测器图像的最大灰度值，X_i为坏线上各像素点的像素值，与分别是与坏线左右两侧相邻的两条完好的像素线上各像素点的像素值。