[发明专利]一种新型挠性电路板缺陷检测装置及方法无效
| 申请号： | 201310441800.2 | 申请日： | 2013-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN103487442A | 公开（公告）日： | 2014-01-01 |
| 发明（设计）人： | 陈安;胡跃明;何继贤;吴忻生 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 杨晓松;付茵茵 |
| 地址： | 511458 广东省广州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种新型挠性电路板缺陷检测装置，包括：控制系统、检测平台和输送待测电路板的传送带；它还包括XY轴运动平台和两个沿着X轴方向设置的摄像头；两块待测电路板依次平放在沿着X轴方向设置的传送带上，传送带安装在检测平台上；两个摄像头通过XY轴运动平台正对待测电路板的上平面平移，一个摄像头对应一块电路板。本发明还涉及一种新型挠性电路板缺陷检测方法。本发明具有高效、准确检测的优点，属于电路板的视觉检测技术领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 电路板 缺陷 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种新型挠性电路板缺陷检测装置，包括：控制系统、检测平台和输送待测电路板的传送带，其特征在于：它还包括XY轴运动平台和两个沿着X轴方向设置的摄像头；两块待测电路板依次平放在沿着X轴方向设置的传送带上，传送带安装在检测平台上；两个摄像头通过XY轴运动平台正对待测电路板的上平面平移，一个摄像头对应一块电路板。
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