[发明专利]垂直式晶体管元件及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201310446781.2 申请日: 2013-09-25
公开(公告)号: CN104465753A 公开(公告)日: 2015-03-25
发明(设计)人: 苏浩;胡航;廖鸿 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开一种垂直式晶体管元件及其制作方法,该晶体管元件包括基材、第一源极、漏极、第一栅介电层、第一栅极以及第一掺杂区。基材具有至少一个凸出部。第一源极具有第一电性,形成于基材上。漏极具有第一电性,且位于凸出部上方。第一栅极邻接于凸出部的第一侧壁。第一栅介电层位于第一侧壁和第一栅极之间,且邻接第一源极和漏极第一掺杂区具有第二电性,形成于凸出部下方,且邻接第一源极。
搜索关键词: 垂直 晶体管 元件 及其 制作方法
【主权项】:
一种直立式晶体管(vertical transistor)元件,包括:基材,具有至少一凸出部;第一源极,具有一第一电性,形成于该基材上;漏极,具有该第一电性,且位于该凸出部上方;第一栅极,邻接该凸出部的一第一侧壁;第一栅介电层,位于该第一侧壁与该第一栅极之间,且邻接该第一源极和该漏极;以及第一掺杂区,具有一第二电性,形成于该凸出部下方,且邻接该第一源极。
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