[发明专利]垂直式晶体管元件及其制作方法在审
申请号: | 201310446781.2 | 申请日: | 2013-09-25 |
公开(公告)号: | CN104465753A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 苏浩;胡航;廖鸿 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种垂直式晶体管元件及其制作方法,该晶体管元件包括基材、第一源极、漏极、第一栅介电层、第一栅极以及第一掺杂区。基材具有至少一个凸出部。第一源极具有第一电性,形成于基材上。漏极具有第一电性,且位于凸出部上方。第一栅极邻接于凸出部的第一侧壁。第一栅介电层位于第一侧壁和第一栅极之间,且邻接第一源极和漏极第一掺杂区具有第二电性,形成于凸出部下方,且邻接第一源极。 | ||
搜索关键词: | 垂直 晶体管 元件 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种直立式晶体管(vertical transistor)元件,包括:基材,具有至少一凸出部;第一源极,具有一第一电性,形成于该基材上;漏极,具有该第一电性,且位于该凸出部上方;第一栅极,邻接该凸出部的一第一侧壁;第一栅介电层,位于该第一侧壁与该第一栅极之间,且邻接该第一源极和该漏极;以及第一掺杂区,具有一第二电性,形成于该凸出部下方,且邻接该第一源极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联华电子股份有限公司,未经联华电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310446781.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:有机电致发光器件及其制备方法
- 下一篇:一种新型TVS晶片封装方法
- 同类专利
- 专利分类