[发明专利]滤光片缺陷特征参数选择的熵方法有效
| 申请号： | 201310449476.9 | 申请日： | 2013-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN103500336A | 公开（公告）日： | 2014-01-08 |
| 发明（设计）人： | 吴俊芳;刘桂雄;付梦瑶 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G06K9/46 | 分类号： | G06K9/46 |
| 代理公司： | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人： | 李振文 |
| 地址： | 510640 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种滤光片缺陷特征参数选择的熵方法，包括：从缺陷滤光片图像中分割出包含缺陷的外接矩形，形成缺陷ROI；设置候选特征集F的元素，设置已选特征集S为空集；计算缺陷ROI特征值，构造样本集合；计算候选特征fifk与类C的归一化互信息SU(fifk,C)；根据SU(fifk,C)最大值选出S的第一个元素s1；去除候选特征集F中已选入S的特征及归一化互信息SU(fifk,C)小于阈值的候选特征；计算候选特征集F中每个候选特征fifk的评价函数J(fifk,C,S)的值；根据评价函数J(fifk,C,S)最大值选出已选特征集S的下一个元素；去除候选特征集F中已选入S的特征及评价函数J(fifk,C,S)小于阈值的候选特征；判断候选特征集F是否空集；输出已选特征。 | ||
| 搜索关键词： | 滤光 缺陷 特征 参数 选择 方法 | ||
【主权项】：
滤光片缺陷特征参数选择的熵方法，其特征在于，所述方法包括：分割缺陷滤光片图像中包含缺陷的外接矩形，形成缺陷ROI；设置候选特征集F的元素，设置已选特征集S为空集；计算所述缺陷ROI的特征值，通过特征值构造样本集合；计算样本集合中所有样本的候选特征fifk与类C的归一化互信息SU(fifk,C)；根据归一化互信息SU(fifk,C)最大值选出已选特征集S的第一个元素s1；去除候选特征集F中已选入S的特征及归一化互信息SU(fifk,C)小于阈值的候选特征；计算候选特征集F中每个候选特征fifk的评价函数J(fifk,C,S)的值；根据评价函数J(fifk,C,S)最大值选出已选特征集S的下一个元素；去除候选特征集F中已选入S的特征及评价函数J(fifk,C,S)小于阈值的候选特征；重复该步骤，直至候选特征集F为空集；已选特征集S的元素即为滤光片缺陷特征参数。
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