[发明专利]基于X射线成像系统探测器特性的调制传递函数测量方法有效
申请号: | 201310465149.2 | 申请日: | 2013-09-29 |
公开(公告)号: | CN103528840A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 周仲兴;高峰;赵会娟;张力新;朱庆阵 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01M99/00 | 分类号: | G01M99/00 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 程毓英 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明属于生物医学工程及计算机领域,涉及一种基于X射线成像系统探测器特性的调制传递函数测量方法,包括:放置刀口测试仪器紧贴探测器,并使刀口与探测器采样方向有一倾斜角度,连续采集多幅图像;对多幅刀口图像叠加平均,降低系统噪声,而后对平均后的刀口图像进行刀口边界检测,获得刀口边界直线;对刀口边界直线图进行Hough变换,获得刀口倾斜角度α,构建过采样ESF曲线;采用C样条曲线作为回归样条曲线f对过采样ESF曲线进行分段拟合;进行差分运算得到线扩散函数;对线扩散函数进行傅里叶变换再取模,得到调制传递函数;归一化处理。本发明解决了刀口法获取过采样ESF曲线时的拟合误差问题,可以获得较传统刀口测量方法更为准确的MTF曲线。 | ||
搜索关键词: | 基于 射线 成像 系统 探测器 特性 调制 传递函数 测量方法 | ||
【主权项】:
一种基于X射线成像系统探测器特性的调制传递函数测量方法,包括下列步骤:①设置数字放射成像系统的曝光参数,放置刀口测试仪器紧贴探测器,并使刀口与探测器采样方向有一倾斜角度,连续采集多幅图像;②对多幅刀口图像叠加平均,降低系统噪声,而后对平均后的刀口图像进行刀口边界检测,并且利用直线拟合获得刀口边界直线;③对刀口边界直线图进行Hough变换,获得刀口倾斜角度α,而后依据公式N=round(1/tanα)得到该倾角对应的插值数N,构建过采样ESF曲线,round符号代表取整函数;④采用C样条曲线作为回归样条曲线f对ESF曲线进行分段最小二乘拟合,同时满足约束条件,即拟合时保证ESF曲线左半部分为单调非减凹函数,右半部分为单调非减凸函数;⑤对经过最小二乘拟合的ESF曲线进行差分运算得到线扩散函数LSF(x);⑥对线扩散函数LSF(x)进行傅里叶变换再取模,得到调制传递函数MTF′(f);⑦对MTF′(f)采用零频率位置MTF值进行归一化,得到归一化的调制传递函数MTF(f)。
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