[发明专利]测量高精度轴类键槽深度误差的方法及其装置

摘要

测量高精度轴类键槽深度误差的方法及其装置，其测量方法为，利用千分表和高度尺确定当升降轴上表面所处的水平面与待测轴上待测键槽的槽底平面相平时，固定好升降座中心位置的通孔中的升降轴，然后采用钢球和定位框配合，利用高度尺推千分表的方法测量待测键槽的深度误差；该装置设有一用于放置待测轴的平台和一升降座，升降座中心通孔中设有升降轴，升降座的外周面上设有紧固升降轴的紧固螺钉，升降轴的上端面为用于放置块规和定位框的检测面，块规的厚度与待测键槽目标深度相等，定位框内设有一个与其各内边均相切的钢球。本发明操作时不受千分尺测杆直径大小以及键槽宽度的限制，节约检测成本、减少测量者工作量。

主权项

测量高精度轴类键槽深度误差的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、将待测轴（7）固定在平台上，并使其外圆面朝上，将升降座（1）放置在该平台上，然后取一个厚度与该轴上待测键槽的目标深度相等的块规（6），并将其放置在升降座（1）中升降轴（2）的上平面；分别取千分表和高度尺，并把千分表装到高度尺上，推动高度尺用千分表检查，调整升降轴（2）的高度，使其上放置的块规（6）的上表面与待测轴（7）的外圆最高点等高，锁紧紧固螺钉（3），此时升降轴（2）上表面所处的水平面即为待测轴（7）上待测键槽的槽底平面；步骤二、取下块规（6），旋转待测轴（7），使其中待测键槽的开槽方向朝上且槽底面处于水平状态，在升降轴（2）的上端面上放置定位框，并在定位框的内部区域放置一个与定位框各内边相切的钢球（5），钢球（5）的直径小于待测键槽的宽度，并且不小于待测键槽深度；步骤三、分别取千分表和高度尺，并把千分表装到高度尺上，推动高度尺用千分表找钢球（5）的最高点，待找到钢球（5）的最高点后将千分表复零位；步骤四、从升降轴（2）的上端面上取下钢球（5）并将其放入待测键槽中，然后推动高度尺用千分表找该钢球（5）此时的最高点，根据表针的摆动数值判断待测键槽的深度误差。