[发明专利]具有多个测试站的转盘式测试装置与系统在审
| 申请号： | 201310469891.0 | 申请日： | 2013-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN104569633A | 公开（公告）日： | 2015-04-29 |
| 发明（设计）人： | 詹勋亮;施松柏 | 申请（专利权）人： | 京元电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人： | 寿宁 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是有关于一种具有多个测试站的转盘式测试装置与系统，特别是有关一种可以同时对多个电子元件连续进行不同测试的具有多个测试站的转盘式测试装置与系统。此具有多个测试站的转盘式测试装置包含一个输送转盘与数个测试转盘。借由测试转盘而使数个测试模块组成一个圆盘式的测试工作站配置，使得每一个测试工作站可以连续地进行测试而不会闲置，进而增加测试的产能。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 测试 转盘 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种具有多个测试站的转盘式测试装置，其特征在于包含：输送转盘，用以传送电子元件;以及多个测试转盘，用以对该输送转盘传送来的电子元件进行多个不同的测试，其中，每一该测试转盘周围设置有多个不同的测试模块，从而形成多个不同的测试工作站，以对电子元件连续进行不同的测试项目。
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