[发明专利]一种用于测量深低温强磁场下样品表面态的反射式谐振腔

摘要

本发明公开了一种用于测量深低温、强磁场下样品表面态的反射式谐振腔，反射式谐振腔主要由同轴电缆组件、微波隔板和面板安装式连接器、谐振腔盖板、谐振腔、铜片A、铜片B、螺丝A、螺丝B等组成。反射式谐振腔的主要特征在于利用同轴电缆将微波导入深低温、强磁场环境的谐振腔中，实现了微波测量与深低温、强磁场输运测量的结合。该系统为对诸如拓扑绝缘体等二维纳米结构材料表面态的深低温磁输运研究提供了一种有效工具。

主权项

一种用于测量深低温强磁场下样品表面态的反射式谐振腔，包括：同轴电缆组件（101）、微波隔板和面板安装式连接器（102）、谐振腔盖板（103）、谐振腔（104）、铜片A（105）、铜片B（106）、螺丝A（107）和螺丝B（108），其特征在于：所述的微波隔板和面板安装式连接器（102）与同轴电缆组件（101）相连，其末端有一天线，可用于发射微波和接收微波，微波隔板和面板安装式连接器（102）下端天线对准谐振腔盖板（103）中间孔洞，并用螺丝B（108）固定；谐振腔盖板（103）短边两个三等分点上各有一个螺孔，与谐振腔（104）两端螺孔对应，通过螺丝A（107）与谐振腔（104）固定；谐振腔盖板（103）正中央有一小孔，微波通过微波隔板和面板安装式连接器（102）的天线发射端通过小孔进入谐振腔（104），经谐振腔（104）反射后原路返回；铜片A（105）、铜片B（106）放置于谐振腔（104）内调节谐振腔大小。