[发明专利]一种前处理装置和前处理方法及其检测高纯试剂中的有机杂质的方法无效
| 申请号： | 201310470583.X | 申请日： | 2013-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN103472161A | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 曹旭妮;沈阳 | 申请（专利权）人： | 华东理工大学 |
| 主分类号： | G01N30/08 | 分类号： | G01N30/08;G01N30/02 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 邓琪;宋丽荣 |
| 地址： | 200237 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于检测高纯试剂中的有机杂质的前处理装置，前处理装置包括通过连接管依次相连的气化室、分离室和冷凝室，气化室具有样品的入口，冷凝室具有样品的出口。本发明还提供一种用于检测高纯试剂中的有机杂质的前处理方法以及包括前处理方法的检测方法。本发明通过具有分离室的前处理装置对高纯试剂中的主成分和有机杂质进行分离，从而将高纯溶剂中的微量有机杂质在前处理方法中进行富集，准确地实现了对有机杂质种类和含量的定性和定量分析。通过分离室内的多根并联的气相色谱柱，并且根据高纯溶剂的色谱分析方法选择分离涉及的多个参数，高纯溶剂中的主成分和有机杂质可以在气相色谱柱中进行有效分离富集，灵敏度和准确度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 处理 装置 方法 及其 检测 高纯 试剂 中的 有机 杂质 | ||
【主权项】：
一种用于检测高纯试剂中的有机杂质的前处理装置，其特征在于，该前处理装置包括通过连接管（4）依次相连的气化室（1）、分离室（2）和冷凝室（3），所述气化室（1）具有样品（5）的入口（11），所述冷凝室（3）具有样品（5）的出口（31）。
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