[发明专利]用于研究导电高分子复合材料压阻特性的四线测量法有效
| 申请号： | 201310470940.2 | 申请日： | 2013-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN103529299A | 公开（公告）日： | 2014-01-22 |
| 发明（设计）人： | 王璐珩 | 申请（专利权）人： | 东北大学 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02;G01L1/18 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 110819 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 一种用于研究导电高分子复合材料压阻特性的四线测量法，属于精密测试技术领域。这种测量方法是基于一种包括两个电流端和两个电压端的新型四线式压阻试样，该试样由底层组件、中间层组件和顶层组件三部分构成。其中，一个电流端位于底层组件中、一个电压端位于中间层组件中，另外的一个电流端和一个电压端位于顶层组件中。测量压阻试样电阻时，将恒流源接到四线式压阻元件的两个电流端、将具有高输入阻抗的电压测量装置接到四线式压阻元件的两个电压端，因而可消除接触电阻对测量精度带来的不利影响。本发明提出的四线测量法可用于导电高分子复合材料压阻特性测试与分析，该设计思想还可应用于研制基于这种材料的压阻传感器探头。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 研究 导电 高分子 复合材料 特性 测量 | ||
【主权项】：
一种用于研究导电高分子复合材料压阻特性的四线测量法，其特征在于，这种测量方法是基于一种包括两个电流端和两个电压端的四线式压阻试样，该试样由底层组件、中间层组件和顶层组件三部分构成；测量四线式压阻试样压阻特性时，将施力压块放置在顶层组件之上，将四线式压阻试样的两个电流端接到恒流源、将四线式压阻试样的两个电压端接入具有高输入阻抗的电压测量装置。
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