[发明专利]X射线分析装置有效

专利信息
申请号: 201310471920.7 申请日: 2013-10-11
公开(公告)号: CN103728325B 公开(公告)日: 2018-01-09
发明(设计)人: 大原孝夫;若佐谷贤治;小泽哲也;西邦夫 申请(专利权)人: 株式会社理学
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 毛立群,王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种当对样品照射了X射线时通过X射线检测器检测从该样品发出的X射线的X射线分析装置。该X射线分析装置具备可更换的部件。该X射线分析装置具有标签,附加于可更换的部件中并且附加了表示可更换的部件的种类的符号;摄影机,将可更换的部件和标签进行摄影;以及CPU和图像认识软件,基于附加于标签的符号通过计算特定可更换的部件的种类。
搜索关键词: 射线 分析 装置
【主权项】:
一种X射线分析装置,当对样品照射了X射线时,通过X射线检测器检测从该样品发出的X射线,并且具备多个测定手段和种类不同的多个可更换的部件,其特征在于,具有:标志,设置于所述多个可更换的部件中;摄影机,将所述多个可更换的部件和所述标志进行摄影;以及控制单元,对所述摄影机所摄影的信息进行解析,实现所述多个测定手段,所述标志包含有表示所述可更换的部件的种类名称的信息、表示所述可更换的部件应被安装的位置的信息、以及表示所述可更换的部件应被安装的方向的信息,所述控制单元基于由所述摄影机所摄影的所述多个可更换的部件的种类名称的信息、位置的信息以及方向的信息来判定所述多个可更换的部件的种类、位置以及方向与测定手段对应得正确与否。
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