[发明专利]一种随机取样过程中的触发抖动实时校正电路及方法有效

专利信息
申请号: 201310491672.2 申请日: 2013-10-11
公开(公告)号: CN103580656A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 李强;李金山;冷朋 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: H03K5/1252 分类号: H03K5/1252
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 266555 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供一种随机取样过程中的触发抖动实时校正电路及方法,将触发信号及采样时钟设置与可编辑逻辑单元中的触发控制单元相连接,产生四路时序信号后设置与可编辑逻辑单元中的精密内插单元相连接,触发信号上升沿与其后第一个采样时钟上升沿之间的时间间隔t1、一个采样时钟周期的时间间隔t2、或者两个采样周期的时间间隔t3到展宽电路及比较器,再设置与可编辑逻辑单元中的精密内插计数器相连接,产生计数值后输入至数字信号处理器,其中,t1为需要测量的精密内插时间间隔,t2和t3用于内插时间校准。采用上述方案,在FPGA内部实现数字化精密内插时间鉴别电路,并通过双斜坡扩展电路的优化设计和内插时间校准技术消除触发抖动。
搜索关键词: 一种 随机 取样 过程 中的 触发 抖动 实时 校正 电路 方法
【主权项】:
一种随机取样过程中的触发抖动实时校正电路,其特征在于,将触发信号及采样时钟设置与可编辑逻辑单元中的触发控制单元相连接,所述触发控制单元产生四路时序信号后设置与可编辑逻辑单元中的精密内插单元相连接,触发信号上升沿与其后第一个采样时钟上升沿之间的时间间隔t1、一个采样时钟周期的时间间隔t2、或者两个采样周期的时间间隔t3到展宽电路及比较器,再设置与可编辑逻辑单元中的精密内插计数器相连接,产生计数值后输入至数字信号处理器,用于计算精密内插时间间隔,其中,t1为需要测量的精密内插时间间隔,t2和t3用于内插时间校准。
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