[发明专利]一种用于测量柔性片状材料表面电阻的装置有效

专利信息
申请号: 201310503151.4 申请日: 2013-10-23
公开(公告)号: CN103529300A 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 黄时建;高琮 申请(专利权)人: 上海工程技术大学
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 代理人: 何葆芳
地址: 201620 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种用于测量柔性片状材料表面电阻的装置,其包括平行电极探头、导线、质量块和电阻仪,所述的平行电极探头设置在待测材料上,所述的质量块设置在平行电极探头的上方;且所述的平行电极探头与电阻仪通过导线相连接、在待测材料表面形成回路。本发明提供的用于测量柔性片状材料表面电阻的装置,测量灵敏度高、测试方便、且可消减体积电阻和表面污染造成的测试影响,具有极强的实用价值,适于广泛推广应用。
搜索关键词: 一种 用于 测量 柔性 片状 材料 表面电阻 装置
【主权项】:
一种用于测量柔性片状材料表面电阻的装置,其特征在于:包括平行电极探头、导线、质量块和电阻仪,所述的平行电极探头设置在待测材料上,所述的质量块设置在平行电极探头的上方;且所述的平行电极探头与电阻仪通过导线相连接、在待测材料表面形成回路。
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