[发明专利]一种带或未带氧化层的金相试样的制样方法有效

专利信息
申请号: 201310508755.8 申请日: 2013-10-25
公开(公告)号: CN103543054A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 岳增武;李辛庚;王学刚;闫风洁;樊志彬;郭凯;肖世荣;张都清;邵明星 申请(专利权)人: 国家电网公司;国网山东省电力公司电力科学研究院
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28
代理公司: 济南泉城专利商标事务所 37218 代理人: 袁敬清
地址: 250003 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及一种带或未带氧化层的金相试样的制样方法,属于金相试样的制样技术领域。未带氧化层的金相试样,取样之后进行化学镀镍,然后再将试样进行镶嵌;其边缘可获得良好的导电性,从而获得满意的图像。带有氧化层的金属试样,取样之后利用溅射镀膜机在试样表面镀金,然后进行化学镀镍,再将试样进行镶嵌。利用溅射镀膜机在带有氧化层的金属试样表面镀金以后,试样表面覆盖着一层细小颗粒状的金,这种表面本身处于活化状态,不需要进行催化处理就可进行化学镀镍,当试样放入化学镀液后,沉积反应立即发生。实验证明,经过溅射喷镀金后的带氧化层的试样,在酸性化学镀液和碱性化学镀液中均可顺利地进行化学镀镍。
搜索关键词: 一种 氧化 金相 试样 方法
【主权项】:
一种未带氧化层的金相试样的制样方法,其特征在于,取样之后在试样表面进行化学镀镍,然后再将试样进行镶嵌。
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