[发明专利]一种辐射计光阑面积的高精度测量装置在审
| 申请号： | 201310516880.3 | 申请日： | 2013-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN103591910A | 公开（公告）日： | 2014-02-19 |
| 发明（设计）人： | 方伟;陈祥子;杨振岭 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01B11/28 | 分类号： | G01B11/28 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 张伟 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明属于光辐射计量领域中一种辐射计光阑面积的高精度测量装置，是对有效面积法测量装置的改进。本发明的测量装置是由半导体激光器堆叠实现的照度均匀的光源系统，样品支撑架，积分球，探测器等主要部分构成。本发明的积极效果是使测量过程简单化，同时又减少了复杂的测量装置中各个部分带来的系统不确定度，间接的测量光阑的面积，测得的光阑面积为有效面积或辐射计量面积，并非光阑机械面积，这对光阑面积测量的实际应用有着很大的进步意义。本发明的测量装置可以适用于多种需要精确测量光阑面积的系统，不仅仅局限于辐射计光阑面积的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辐射计 光阑 面积 高精度 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种辐射计光阑面积的高精度测量装置，其特征在于，包括：照度均匀的光源系统，其为孔径光阑提供辐射通量；设置在孔径光阑后面的积分球探测器，用来测量辐射通量；用来支撑孔径光阑的支撑架。
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