[发明专利]双衍射级次Offner成像光谱仪无效
| 申请号： | 201310521220.4 | 申请日： | 2013-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN103592024A | 公开（公告）日： | 2014-02-19 |
| 发明（设计）人： | 方伟;张浩;叶新 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/02 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 张伟 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 双衍射级次Offner成像光谱仪属于高光谱成像技术领域，包括：Offner凸面光栅光谱成像系统和双波段面阵光电探测器，双波段面阵光电探测器由两种不同响应波段的光敏元同轴叠层或者平行隔行制作而成；光谱成像系统中的光栅同时使用一级和二级衍射光作为有效工作级次，光电探测器同时分别接收对应的一级和二级衍射光。本发明通过使用双波段探测器与光栅双衍射级次的谱段匹配，实现一二级衍射波段的同时探测，扩展了仪器的工作光谱范围、提高了衍射效率；有助于降低仪器的整体偏振灵敏性；双波段探测器简化了光路结构，降低了仪器体积和重量，并且自动实现两个波段的空间维像素的对齐及一二级衍射倍频波长的对准。 | ||
| 搜索关键词： | 衍射 级次 offner 成像 光谱仪 | ||
【主权项】：
双衍射级次Offner成像光谱仪，该光谱仪包括：Offner凸面光栅光谱成像系统和双波段面阵光电探测器，其特征在于，将现有Offner凸面光栅光谱成像系统中的二级及二级以上衍射级次截止的滤光片替换成三级及三级以上衍射级次截止的滤光片；双波段面阵光电探测器由由两种不同响应波段的光敏元同轴叠层或者平行隔行制作而成；所述Offner凸面光栅光谱成像系统中的光栅同时使用一级和二级衍射光作为有效工作级次，双波段面阵光电探测器同时、分别接收对应的一级和二级衍射光。
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