[发明专利]一种能提升冶金级硅片少子寿命的扩散工艺有效
申请号: | 201310522023.4 | 申请日: | 2013-10-29 |
公开(公告)号: | CN103531449A | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 杨利利;杨佳;武建 | 申请(专利权)人: | 宁夏银星能源股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/228 | 分类号: | H01L21/228;H01L31/18 |
代理公司: | 宁夏专利服务中心 64100 | 代理人: | 赵明辉 |
地址: | 750021 宁夏回族*** | 国省代码: | 宁夏;64 |
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摘要: | 本发明涉及物理冶金级硅太阳能电池制造过程中的扩散工艺,尤其是一种能提升冶金级硅片少子寿命的扩散工艺。其特点是,包括如下步骤:(1)低温进舟、初步升温;(2)通源扩散;(3)恒温推进;(4)降温、退舟。本发明的有益效果是:1.采用喷淋式扩散可节省磷源,同时提高扩散结深的均匀性,并且适合做高方阻;2.针对物理冶金硅的特性,采用双面磷吸杂,增强吸杂效果,提升硅片少子寿命;3.通过温度与时间的协调,有效改善扩散工艺;4.控制通氧与通源量的比例,减少由于直接扩散引起的缺陷,改善PN结结深,也可改善表面钝化效果,提高短路电流与开路电压,进而提升冶金硅太阳能电池转换效率及成品率。 | ||
搜索关键词: | 一种 提升 冶金 硅片 少子 寿命 扩散 工艺 | ||
【主权项】:
一种能提升冶金级硅片少子寿命的扩散工艺,其特征在于,包括如下步骤:(1)低温进舟、初步升温:在初始温度为810‑820℃时开始向炉管内推进承载硅片的石英舟,控制进舟速度为400‑500mm/min,进舟完成后将温度升至830‑840℃并在氮氧共存的气氛下保温5‑7min,氮、氧的流量分别控制在1200‑1400mL/min、23000‑29000mL/min;(2)通源扩散:在保温过程后,由氮气携带液态的三氯氧磷进入炉管在氮气气氛下与氧气及硅表面发生反应生成磷原子扩散进入硅片来进行通源扩散;(3)恒温推进:通源扩散后,将温度保持在840‑850℃,在氮氧共存的气氛下保温360‑600s,氮、氧的流量分别控制在1800‑2000mL/min、23000‑29000mL/min;(4)降温、退舟:停止通氧,在氮气气氛下,将炉内温度降至810‑820℃,控制退舟的速度保持在300‑400mm/min进行退舟。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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