[发明专利]氧化物烧结体及其制造方法、靶、使用该靶得到的透明导电膜以及透明导电性基材有效

专利信息
申请号: 201310524759.5 申请日: 2008-07-02
公开(公告)号: CN103641449A 公开(公告)日: 2014-03-19
发明(设计)人: 中山德行;阿部能之 申请(专利权)人: 住友金属矿山株式会社
主分类号: C04B35/00 分类号: C04B35/00;B32B9/00;C23C14/32;C23C14/34;H01B5/14;H01B13/00
代理公司: 北京三幸商标专利事务所 11216 代理人: 刘激扬
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供可以实现高速成膜和无结节的溅射用靶或离子电镀用片料,用于得到它们的最佳氧化物烧结体及其制造方法,以及使用该氧化物烧结体得到的蓝光吸收少的低电阻透明导电膜。本发明提供的氧化物烧结体等的特征在于:在含有铟和镓作为氧化物的烧结体中,方铁锰矿型结构的In2O3相为主结晶相,在主结晶相中,β-Ga2O3型结构的GaInO3相、或GaInO3相和(Ga,In)2O3相以平均粒径为5μm以下的晶粒微细地分散,镓含量以Ga/(In+Ga)原子数比计,为10原子%以上、小于35原子%。
搜索关键词: 氧化物 烧结 及其 制造 方法 使用 得到 透明 导电 以及 导电性 基材
【主权项】:
一种氧化物烧结体,其特征在于:在含有铟和镓的氧化物烧结体中,方铁锰矿型结构的In2O3相为主结晶相,在主结晶相中,β‑Ga2O3型结构的GaInO3相、或GaInO3相和(Ga,In)2O3相以平均粒径为5μm以下的晶粒微细地分散,不含有氧化锗相,镓含量以Ga/(In+Ga)原子数比计,为10原子%以上、小于35原子%。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于住友金属矿山株式会社,未经住友金属矿山株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310524759.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top