[发明专利]光谱分析系统

摘要

本发明公开了一种光谱分析系统，包括：切尼-特纳光路结构；光电倍增管阵列，光电倍增管阵列包括N个光电倍增管，N为正整数；光纤阵列，光纤阵列包括N组光纤，各组光纤的第一端排成与入射狭缝平行方向的一列安装在切尼-特纳光路结构的聚焦平面上，其中各组光纤的第一端收集不同波长单色光，N组光纤的第二端与N个光电倍增管一一对应地相连以将不同波长的光信号传导到不同的光电倍增管；多通道时间门控计数器；高压电源；和温度控制模块，温度控制模块与光电倍增管阵列相连，用于在进行光谱测量时将光电倍增管阵列维持在恒定的低温环境。该系统的优点在于同时具有高灵敏度和高时间分辨能力，可用于采集微弱的快速变化且不重复的光谱信号。

主权项

一种光谱分析系统，其特征在于，包括：切尼‑特纳光路结构，所述切尼‑特纳光路结构用于将光源的光谱分光为不同波长单色光后平行地输出；光电倍增管阵列，所述光电倍增管阵列包括N个光电倍增管，N为正整数；光纤阵列，所述光纤阵列包括N组光纤，各组光纤的第一端排成与入射狭缝平行方向的一列安装在所述切尼‑特纳光路结构的聚焦平面上，其中所述各组光纤的第一端收集不同波长单色光，所述N组光纤的第二端与所述N个光电倍增管一一对应地相连以将不同波长的光信号传导到不同的光电倍增管；多通道时间门控计数器，所述多通道时间门控计数器与所述多个光电倍增管分别电性连接；高压电源，所述高压电源与所述光电倍增管阵列电性连接；和温度控制模块，所述温度控制模块与所述光电倍增管阵列相连，用于在进行光谱测量时将所述光电倍增管阵列维持在恒定的低温环境。