[发明专利]一种覆盖优化中问题区域的生成方法及装置有效

专利信息
申请号: 201310534606.9 申请日: 2013-11-01
公开(公告)号: CN104602271B 公开(公告)日: 2018-11-02
发明(设计)人: 岳军;陶琳 申请(专利权)人: 中国移动通信集团设计院有限公司
主分类号: H04W24/02 分类号: H04W24/02
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 许静;黄灿
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种覆盖优化中问题区域的生成方法及装置。本发明属于无线通信技术领域。所述覆盖优化中问题区域的生成方法,包括:获取覆盖优化中的采样点信息;将所述采样点信息进行栅格汇总;根据所述栅格汇总生成问题区域图层。上述方案解决了利用采样点统计时可能出现的重复判定或者漏判问题,通过对采样点信息进行栅格汇总处理,能够精确生成问题区域,并且能够直观的进行区域边界的GIS渲染,方便了技术人员快速的定位问题区域。
搜索关键词: 一种 覆盖 优化 问题 区域 生成 方法 装置
【主权项】:
1.一种覆盖优化中问题区域的生成方法,其特征在于,包括:获取覆盖优化中的采样点信息;将所述采样点信息进行栅格汇总;根据所述栅格汇总生成问题区域图层;其中,所述根据所述栅格汇总生成问题区域图层的步骤包括:筛选所述栅格汇总生成存在覆盖问题的栅格集;将所述存在覆盖问题的栅格集进行分类合集,生成问题区域集;对所述问题区域集中的每个问题区域中的栅格索引所确定的栅格区域范围进行区域外扩;根据所述外扩的栅格索引生成栅格图层;根据栅格索引值合并所述栅格图层生成问题区域图层;其中,所述生成问题区域集的具体方法为:对于存在覆盖问题的栅格集,如果两个栅格中心间距小于或等于X个第一栅格精度,则判定这两个栅格属于同一个问题区域,其中,X为大于1的常数;所述对所述问题区域集中的每个问题区域中的栅格索引所确定的栅格区域范围进行区域外扩的步骤具体为:外扩后的归一化MGRS经度东偏置=归一化MGRS经度东偏置‑((X‑1)/2)*第一栅格精度‑Y;外扩后的归一化MGRS经度北偏置=归一化MGRS经度北偏置‑((X‑1)/2)*第一栅格精度‑Y;第二栅格精度=X*第一栅格精度+2*Y;其中X为问题区域判定规则中的大于1的栅格边长数,Y的取值为大于0的常量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国移动通信集团设计院有限公司,未经中国移动通信集团设计院有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310534606.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top