[发明专利]采用等离子体增强化学气相沉积制备减反射膜的方法有效
申请号: | 201310536254.0 | 申请日: | 2013-11-01 |
公开(公告)号: | CN103614703A | 公开(公告)日: | 2014-03-05 |
发明(设计)人: | 李云峰;韩玮智;牛新伟;仇展炜 | 申请(专利权)人: | 浙江正泰太阳能科技有限公司 |
主分类号: | C23C16/44 | 分类号: | C23C16/44;H01L31/18 |
代理公司: | 北京汉昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11370 | 代理人: | 冯谱 |
地址: | 310053 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种采用等离子气相沉积制备减反射膜的方法,该方法包括如下步骤:将硅片放置在载板上,并将所述载板置于反应腔内;向所述反应腔内通入反应气体;通过等离子源激发,在所述硅片表面形成减反射膜;在所述载板的使用周期内,多次执行上述步骤,进行等离子源激发以形成减反射膜的时间随着所述载板的使用次数改变。采用本发明的方法,沉积减反射膜的时间随着载板的使用次数做相应的调整,可以使在载板的使用周期内获得的减反射膜膜厚更均匀。 | ||
搜索关键词: | 采用 等离子体 增强 化学 沉积 制备 减反射膜 方法 | ||
【主权项】:
一种采用等离子气相沉积制备减反射膜的方法,包括如下步骤:a)将硅片放置在载板上,并将所述载板置于反应腔内;b)向所述反应腔内通入反应气体;c)通过等离子源激发,在所述硅片表面形成减反射膜;其特征在于,在所述载板的使用周期内,多次执行所述步骤a)~所述步骤c),执行所述步骤c)的时间与所述载板使用次数之间的关系如下:T=t1+d×lnn其中:T为每次执行步骤c)的工艺时间;t1为初次使用所述载板执行所述步骤c)的工艺时间;d为参考系数;n为所述载板的使用次数。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
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