[发明专利]一种标准单元及其建立、使用方法有效
申请号: | 201310537891.X | 申请日: | 2013-11-04 |
公开(公告)号: | CN103559352B | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 吴玉平;陈岚;吕志强 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种标准单元及其建立、使用方法。所述标准单元包括,符合预定要求的器件参数值条件下的初始标准单元物理版图;对物理版图的几何尺寸值进行微调的程序;描述物理版图的几何尺寸值与所述物理版图电路性能值的关系函数;根据物理版图的电路性能值求解物理版图中几何尺寸值的程序。本发明实施例提供的标准单元可以根据符合预定要求的电路性能值通过几何尺寸值求解程序得到物理版图的几何尺寸值,根据求解得到的几何尺寸值通过几何尺寸值微调程序对初始标准单元进行微调,得到新标准单元。所以,本发明实施例提供的标准单元及其建立、使用方法,能够克服现有技术中由于需要调用标准单元而需预先创建庞大数量的标准单元库的缺陷。 | ||
搜索关键词: | 一种 标准 单元 及其 建立 使用方法 | ||
【主权项】:
一种标准单元的建立方法,其特征在于,包括,建立符合预定要求的器件参数值条件下的初始标准单元物理版图;建立对物理版图的几何尺寸值进行微调的程序;建立描述物理版图的几何尺寸值与所述物理版图电路性能值的关系函数;建立根据物理版图的电路性能值求解物理版图中几何尺寸值的程序;所述器件参数值包括物理版图中的几何尺寸值;其中,所述建立描述物理版图的几何尺寸值与所述物理版图的电路性能值的关系函数,具体包括,确定所述物理版图内的每个器件的几何尺寸值取值点;组合所述物理版图内的各个器件的所述几何尺寸值取值点,构成若干个几何尺寸值取值点组,所有所述几何尺寸值取值点组构成第一几何尺寸值取值点集合,所述几何尺寸值取值点组包含所述物理版图内每个器件的一个所述几何尺寸值取值点;根据所述第一几何尺寸值取值点集合内的几何尺寸值取值点组,对所述初始标准单元物理版图的几何尺寸进行微调,得到新标准单元物理版图;获取每一个所述新标准单元物理版图的电路性能值,构成第一物理版图电路性能值集合;所述第一几何尺寸值取值点集合内的几何尺寸值取值点组与所述第一物理版图电路性能值集合内的电路性能值存在第一对应关系;根据所述第一对应关系,采用插值方法,获取不被所述第一几何尺寸值取值点集合所包含的几何尺寸值取值点组对应的电路性能值;根据所述第一对应关系和所述采用插值方法获取的不被所述第一几何尺寸值取值点集合所包含的几何尺寸值取值点组对应的电路性能值,建立描述物理版图的几何尺寸值与所述物理版图的电路性能值的关系函数。
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