[发明专利]一种可逆检测次氯酸根和硫化氢的方法有效

专利信息
申请号: 201310539154.3 申请日: 2013-11-01
公开(公告)号: CN103604783A 公开(公告)日: 2014-02-26
发明(设计)人: 刘凤玉;孙世国;高玉龙;王继涛 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 大连东方专利代理有限责任公司 21212 代理人: 赵淑梅;李馨
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明涉及一种可逆检测次氯酸根和硫化氢的方法,具体涉及一类选择性、高灵敏、可逆检测次氯酸根和硫化氢及其氧化还原循环的发光检测方法及其应用。一种可逆检测次氯酸根和硫化氢的方法,为利用发光探针分子进行检测的方法,所述发光探针分子为具有通式I结构的金属配合物:(L1L2)M-L3Y3。该类金属配合物可做为一类选择性、高灵敏、循环、可逆检测次氯酸根和硫化氢及其氧化还原循环过程的发光探针分子。利用该类发光探针分子可以实现对次氯酸根和硫化氢及其氧化还原过程的循环、可逆检测。
搜索关键词: 一种 可逆 检测 次氯酸 硫化氢 方法
【主权项】:
1.一种可逆检测次氯酸根和硫化氢的方法,包括下述步骤:①将已知次氯酸根浓度标准样品和发光探针分子溶于缓冲溶液中,测定体系发光强度,建立次氯酸根浓度与发光探针分子发光强度关系;②将已知硫化氢浓度标准样品加入步骤①所得被氧化的发光探针分子缓冲溶液中,测定体系发光强度,建立硫化氢浓度与发光探针分子发光强度关系;③将待测次氯酸根样品和发光探针分子溶于缓冲溶液中,测定体系发光强度,根据步骤①所得次氯酸根浓度与体系发光强度关系,确定待测次氯酸根样品中次氯酸根的浓度;④将待测硫化氢样品加入步骤③所得溶液中,测定体系发光强度,根据步骤②所得硫化氢浓度与体系发光强度关系,确定待测硫化氢样品中硫化氢的浓度,其中,所述发光探针分子为具有通式I结构的金属配合物:(L1L2)M-L3Y3I式I中,M为Ru或Os;Y为卤素离子、ClO4-、BF4-、PF6-或OTs-;L1和L2各自独立地选自如下配体:其中,R1和R2各自独立地选自H、C1-18烷基、CHO、COOH、NH2、C1-6烷基氨基、OH、SH、C1-6烷氧基、C1-6酰胺基、C1-6烷基取代或未取代的苄基、卤素或C1-6卤代烷基;L3选自如下配体:其中,R3为H、CH3或R4;R4选自具有通式PTZ1、PTZ2或PTZ3的基团,式中:n=1~18,m=0~18
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